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判斷激光粒度分析儀(粒子計(jì)數(shù)器)優(yōu)劣的方法(上篇)

更新時(shí)間:2018-07-18      點(diǎn)擊次數(shù):2977

  粒度分析方法通常采用篩分或沉降法。常用的沉降法存在著檢測速度慢(粒子計(jì)數(shù)器)、重復(fù)性差、對非球型粒子誤差大、不適用于混合物料(粒子計(jì)數(shù)器)、動態(tài)范圍窄等缺點(diǎn)。
所以,判斷激光粒度分析儀粒子計(jì)數(shù)器的優(yōu)劣,主要看其以下幾個(gè)方面:

 

1 粒度測量范圍:粒度范圍寬,適合的應(yīng)用廣。不僅要看其儀器所報(bào)出的范圍,而是看超出主檢測器面積的小粒子散射(<0.5μm>如何檢測。途徑是范圍直接檢測,這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測試,再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜,肯帶來誤差。

2 激光光源:一般選用2mW激光器,功率太小則散射光能量低,造成靈敏度低;另外,氣體光源波長短,穩(wěn)性優(yōu)于固體光源。

3  檢測器因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大,光強(qiáng)越弱,極易造成小粒子信/噪比降低而漏檢,所以對小粒子的分布檢測能體現(xiàn)儀器的好壞。檢測器的發(fā)展經(jīng)歷了圓形,半圓形和扇形幾個(gè)階段。

 

4 是否使用完的米氏理論因?yàn)槊资瞎馍⒗碚摲浅?fù)雜,數(shù)據(jù)處理量大,所以有些廠家忽略顆粒本身折光和吸收等光學(xué)性質(zhì),采用近似的米氏理論,造成適用范圍受限制,漏檢幾率增大等問題。

5 準(zhǔn)確性和重復(fù)性指標(biāo)越高越好:采用NIST標(biāo)準(zhǔn)粒子檢測。

6 穩(wěn)性儀器穩(wěn)性包括光路的穩(wěn)性和分散系統(tǒng)的穩(wěn)性和周圍環(huán)境的影響。一般來講選用氣體激光器,使用光學(xué)平臺,有助于光路的穩(wěn)。內(nèi)部發(fā)熱部件(如50瓦的鎢燈)將影響光路周圍環(huán)境。




 

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